X射線熒光測厚儀使用過程中的注意事項都有什么？
更新時間：2022-09-02 點擊次數(shù)：1059次
X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
X射線熒光測厚儀工作原理：通過高壓產(chǎn)生電子流打入到X光管中靶材產(chǎn)生初級X光，初級X光經(jīng)過過濾和聚集射入到被測樣品產(chǎn)生次級X射線，也就是我們通常所說的X熒光，X熒光被探測器探測到后經(jīng)放大，數(shù)模轉(zhuǎn)換輸入到計算機。計算機計算出我們需要的結(jié)果。
X射線熒光測厚儀使用過程中的注意事項：
1．因該儀器是一種電子儀器，儀器在進行測量之前要預(yù)熱。
2．因X射線熒光分析方法．是對光電子進行大量累積統(tǒng)計的結(jié)果．因此測量時間不能太短。足夠的測量時間,盡量減小隨機誤差。
3．準直器越小，檢測效率和統(tǒng)計平均的效果都將下降，測量程序中所用準直器大小的選擇，應(yīng)與實際測量應(yīng)用時相一致。
4．因為受到可用厚度標準塊的限制，厚度測量示值誤差中所用的標準塊，可根據(jù)條件許可。
5．選擇一到五十標準塊進行測量，選擇的基本原則是：鍍層與基體的材料應(yīng)與測量程序相一致，厚度的分布應(yīng)能覆蓋測量程序所用的范圍，當厚度標準塊的數(shù)量受限，應(yīng)盡量選擇與實際測量應(yīng)用相接近的厚度塊。
6．如果有必要．可以改變相關(guān)的測量條件再進行重復(fù)性測量。
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