菲希爾庫倫法測厚儀Couloscope CMS2 STEP介紹

CouloScope CMS2 STEP菲希爾庫倫法測厚儀在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層間足夠的電位差導致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。 CouloScope CMS2 STEP菲希爾庫倫法測厚儀根據庫侖電量分析法進行測量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標準

CouloScope CMS2 STEP菲希爾庫倫法測厚儀通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學的電位差進行測量。 可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。

CouloScope CMS2 STEP菲希爾庫倫法測厚儀可以通過定位于電位-時間表中相關部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉換到PC電腦中。

COULOSCOPE CMS基本配置：

儀器：            Couloscope CMS

測量臺：          V24、V26、V18 等

電解液：          F1 ～ F22