FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀

 FISCHERXDV-µ測量儀 

FISCHERXDV-µ測量儀 是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60µm。FISCHERXDV-µ測量儀短時間內就可形成高強度聚焦射線。是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60µm。短時間內就可形成高強度聚焦射線。。是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60µm。

短時間內就可形成高強度聚焦射線。系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至是專為在極微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60µm。短時間內就可形成高強度聚焦射線。60µm。短時間內就可形成高強度聚焦射線。

  FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀